关于召开2015可靠性元器件学术研讨会的通知

各相关单位：

      21世纪技术革命的核心是电子信息技术，电子信息技术的基础是微电子电路技术，现在整机微电子电路约占元器件总量的80%左右，谁掌握了先进的微电路技术，谁就掌握了21世纪的主动权。根据有关资料统计，在电子电路产品中，造成整机故障的原因，有75%以上是由于元器件失效造成的。因此，今年学术研讨会的主题为“微电子电路技术的应用、测试与选用控制”。

      会议的具体安排如下：

        一、会议内容

        1. “数字集成电路应用技术”特邀国家级专家，在国防信息分析技术方面做出实出贡献的周绍槐老师主讲。

        2. “微电子器件测试技术”特邀航天测控技术公司开发部经理高级工程师赵铁周主讲。

        3.“电子元器件应用控制经验介绍”由中国工程物理研究院电子工程研究所元器件控制中心主任高级工程师陈纬伟主讲。

        4.“元器件对整机可靠性影响的研究”由可靠性与质量管理专委会副秘书长高级注册咨询师韩英歧老师主讲。

      欢迎从事数字电路的研发工程师，信号分析设计工程师、质量管理、微电路检测及可靠性工程师参加会议。    

         二、会议时间

6月 18日--19日，外地代表：6日17日下午报到；本市代表：6日18日上午8：30-9：00报到，9:00开会。

三、会议地址

成都市通锦桥路67号敦煌国际酒店（可乘3路、101路、93路公交车在通锦桥下车向市内方向走150米左右，也可乘7路公交车在江汉路下车，向一环路方向走150米左右)。

酒店总服务台电话：028-86261111   

四、会议费：1000元

五、其他

请参会代表将回执表（用传真、电话或电子邮件）回函，以便做好会务准备。

联系人：郭老师  万老师（028-83205986  83206889）

    E-mil：scsdzxh@163.com   

联系人：韩老师（13458613190）chengduhan@sina.com   

 四川省电子学会

电子产品可靠性与质量管理专委会

                                                 2015年5月25日