关于召开2017电子可靠性技术研讨会的通知

各相关单位：

为了提高相关单位可靠性与质量管理的技术水平，学会征集了相关专业的学术论文，内容涵盖质量管理、可靠性设计、可靠性试验、失效分析、元器件选用、测试、筛选等领域。

为开好本次研讨会，经初评，优选以下十篇论文在会议上发表交流，最终评出一﹑二﹑三等奖，并对优秀论文进行表彰。

本次研讨会内容丰富、涉及面广、论文水平比较高，是各单位相互学习、相互交流的好机会，希望论文作者及各单位工程技术人员、相关部门的领导及管理人员积极参加会议。

现将有关事项通知如下：

一、会议内容

1、“ 失效案例分析”主题报告；

2、“ 可靠性工程管理”主题报告；

3、优秀论文交流

（1）QMU与传统可靠性方法的分析比较                

（2）基于OPNET的机载网络可靠性研究                                   

（3）晶振失效故障分析                                                       

（4）浅谈连接器外观缺陷对质量可靠性的影响                      

（5）DA42飞机供电系统研究及可靠性分析                         

（6）阵列二极管测试装置研制                                          

（7）CF实验中X射线条纹相机扫描电路的可靠性分析

    （8）钛合金高锁螺栓断裂失效分析

    （9）一种新的按故障率分配测试性指标方法                            

    （10）基于神光激光装置的电子系统可靠性试验方法

      二、会议时间

5月 18日--19日，外地代表：5日17日下午报到；本市代表：5日18日上午8:30-8:50报到，9:00开会。

    三、会议地点

敦煌国际酒店12楼会议室(成都市通锦桥路67号)

可乘3路、101路、93路公交车在通锦桥下车向市内方向走150米左右，也可乘7路公交车在江汉路下车，向一环路方向走150米左右。

酒店总服务台电话：028-86261111   

    四、会务费：1000元（含资料）

    五、其他

请参会代表于5月12日前将回执表（用传真、电话或电子邮件）回函，以便做好会务准备。

    联系人：郭老师  万老师（028-83205986  83206889）

    E-mil：scsdzxh@163.com   

    联系人：韩老师（13458613190）chengduhan@sina.com   

四川省电子学会

电子产品可靠性与质量管理专委会

                                                   2017年5月2日