第十三届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会拟于2019年7月22日～26日在厦门举行。本界学会由中国核学会核电子学与核探测技术分会和四川省电子学会联合主办，由中国工程物理研究院电子工程研究所承办。

      本界学会主要交流全国科研、院校和企业等单位在抗辐射加固技术方面的最新研究成果与动态，以促进核、微电子、电磁脉冲等多学科的融合发展。会议将出论文摘要集，并评选优秀论文向核心期刊推荐发表。

      诚挚欢迎抗辐射加固技术领域的专家学者和企事业单位相关人士积极撰稿并参加本届学术大会。

一、 征文范围

l 抗辐射电子学国内、外研究动态综述

l 核与空间辐射效应及加固技术

l 电磁脉冲（HPM、UWB）效应与加固技术

l 模拟实验技术与测试方法

l 数值模拟与仿真

l 评估技术与应用

l 模拟实验设备研制与应用

l 其他相关技术

二、 征文要求

1、论文应是未公开发表的研究成果或阶段性成果，具有新颖性、创新性和参考价值。

2、论文应主题鲜明，重点突出，公式正确，数据可靠，文字流畅，图表清晰；字数不限。

3、论文集为不涉密的内部交流读物，论文中不要涉及应用背景和保密的技术，请作者和提交论文单位负责保密审查，涉密单位请附保密审查意见（加盖公章）。

4、请将电子文稿用Email发送至：赵洪超（zhaowaves@sohu.com）；通讯地址“四川省绵阳市919信箱511分箱，邮编621999赵洪超收”。收文截止日2019年5月30日。

三、 论文格式要求

1、 论文应包括：题目、作者、单位、通讯地址、邮编、摘要（300字左右小摘要，欢迎出1页左右大摘要）、关键词、正文与参考文献。请附第一作者简介，联系电话和Email地址，便于联络。

2、 论文使用Word-2007文档软件录入，A4幅面；版心尺寸为245×165；即：上、下、左边界均为25mm，右边界为20mm。题目为小二黑体，作者为小四号仿宋体，作者单位、通讯地址为五号宋体，摘要为小五号宋体，正文为五号宋体，标准字间距，行距固定值24磅，图、表中字均为小五号宋体。

四、 联系方式

赵洪超：0816-2484513, 15008197236；刘珉强：0816-2484513, 18204313170